菲希爾 COULOSCOPE® CMS庫侖測厚儀
| 型 號： | |
| 報 價： |  |
菲希爾 COULOSCOPE® CMS庫侖測厚儀（庫侖測量系統(tǒng)）使用庫侖方法測量鍍層厚度。新的設(shè)計中配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，新的可以通過泵控制自動注液和清空測量槽的V18測量臺，以及SPC統(tǒng)計能力
- 產(chǎn)品描述
菲希爾 COULOSCOPE® CMS庫侖測厚儀。新的設(shè)計中配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，新的可以通過泵控制自動注液和清空測量槽的V18測量臺，以及SPC統(tǒng)計能力。該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。
菲希爾 COULOSCOPE® CMS庫侖測厚儀精確地測量范圍在0.05 - 40 µm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預先定義好的鍍層/基材應用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。存儲容量允許記錄和保存上千條的測量結(jié)果。可以通過RS232接口將存儲的數(shù)據(jù)打印或輸出到PC電腦上。
COULOSCOPE® CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本
菲希爾 COULOSCOPE® CMS庫侖測厚儀精確地測量范圍在0.05 - 40 µm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預先定義好的鍍層/基材應用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。存儲容量允許記錄和保存上千條的測量結(jié)果。可以通過RS232接口將存儲的數(shù)據(jù)打印或輸出到PC電腦上。
COULOSCOPE® CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本
4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。
左上角圖片：測量臺V18有1個新的測量槽設(shè)計。由于在每次測量后有一個泵會自動地排出電解液至儲液箱內(nèi)，也就不再需要手動清空測量槽了，一次注滿測量槽就可以多次測量。
右上角圖片：測量臺V24允許靈活定位小工件。
左下角圖片：測量臺V26主要為簡單和平面形狀的物體而設(shè)計。
右下角圖片：測量臺V27主要為在線材上測量而設(shè)計。
左上角圖片：測量臺V18有1個新的測量槽設(shè)計。由于在每次測量后有一個泵會自動地排出電解液至儲液箱內(nèi)，也就不再需要手動清空測量槽了，一次注滿測量槽就可以多次測量。
右上角圖片：測量臺V24允許靈活定位小工件。
左下角圖片：測量臺V26主要為簡單和平面形狀的物體而設(shè)計。
右下角圖片：測量臺V27主要為在線材上測量而設(shè)計。
特性
- 吸引人的設(shè)計，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
- 操作簡單，菜單指引的操作提示。
- 電解區(qū)域直徑從0.6 mm （24 mils） 至3.2 mm （128 mils）。
- 大約100個預先定義好的應用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層，包括測量線材。
COULOSCOPE® CMS STEP
在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。*的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層?reg;間足夠的電位差導致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。
COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。*的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層?reg;間足夠的電位差導致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。
COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位于電位-時間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
